Laboratórium TEM
Analytický transmisný elektrónový mikroskop s atomárnym rozlíšením JEM ARM 200cF s rozlišovacou schopnosťou 0,78 Å vybavený studenou autoemisnou katódou a dvomi korektormi sférickej chyby umožňuje komplexnú charakterizáciu nanoštruktúrnych objektov na atomárnej úrovni pomocou nasledovných metód: zobrazenie pomocou vysokouhlového prstencového detektora tmavého poľa (HAADF), zobrazenie pomocou nizkouhlového prstencového detektora tmavého poľa (LAADF) a prstencového detektora svetlého poľa (ABF) v rastrovacom transmisnom (STEM) režime, v TEM/HRTEM módoch, v režime sekundárnych a spätne rozptýlených elektrónov (SEI/BEI) a získanie štruktúrnych informácií pomocou metód elektrónovej difrakcie (selekčná, nanodifrakcia, konvergentná a precesná). Ďalej je možné vykonávať orientačné a fázové mapovanie, kvalitatívnu a kvantitatívnu analýzu pomocou energiovo-disperznej analýzy (EDS) a spektroskopie strát energie elektrónov (EELS) a mapovať distribúciu atómov prítomných vo vzorke. Mikroskop má zabudovaný Lorentzov mód (umožňuje charakterizovať magnetické vzorky) a biprizmu (metóda elektrónovej holografie). Pomocou metódy elektrónovej tomografie je možné získať informáciu o 3D morfológii objektu. K laboratóriu náležia aj pomocné laboratóriá slúžiace na prípravu vzoriek pre TEM pomocou fyzikálnych a chemických metód.
Začiatok činnosti 2015
Laboratórium AES
Augerova mikrosonda JEOL JAMP 9510-F slúži na prvkovú analýzu štruktúr a kombinuje výhody rastrovacej elektrónovej mikroskopie a Augerovej spektrometrie. Vďaka tomu je možné okrem štandardných Augerových spektier a koncentračných hĺbkových profilov získavať aj Augerove mapy a čiarové profily. V režime sekundárnych elektrónov má mikrosonda rozlíšenie 3 nm a najmenší priemer elektrónového zväzku v režime analýzy Augerových elektrónov je 8 nm. Augerova mikrosonda vhodne dopĺňa analytické techniky obsiahnuté v transmisnom mikroskope, keďže signál Augerových elektrónov pochádza z povrchu štruktúry, teda z hĺbky 0,5 – 3 nm. V režime s energetickým rozlíšením ΔE/E = 0,05% je možné vyšetrovať aj plazmónové excitácie. Vďaka týmto parametrom je prístroj predurčený na analýzu povrchu nanoštruktúr.
Začiatok činnosti 2015
Laboratórium FIB-SEM
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam je vysokorozlišovací skenovací elektrónový mikroskop(SEM), ktorí umožňuje pozorovanie vzoriek v skenovacom režime a nanoobrábanie vzoriek fokusovaným iónovým zväzkom (FIB). Mikroskop je vybavený niekoľkými detektormi pre komplexné pozorovanie a analýzu vzoriek. Pri nevodivých vzorkách je možné dosiahnuť lepšie výsledky v režime nízkeho vákua. Mikroskop, vybavený fokusovaným iónovým zväzkom, nanomanipulátorom a GIS, slúži na prípravu vzoriek pre transmisnú elektrónovú mikroskopiu, čo rozširuje možnosti analýz komplexných materiálov.
Začiatok činnosti 2022
viac…Laboratórium FIB-SEM
Laboratóriá prípravy vzoriek
Pracovisko je vybavené širokou škálou možností prípravy vzoriek zahŕňajúcich vákuové depozície (vákuové naparovanie, vákuové naprašovavanie), mechanickú prípravu (brúsenie, leštenie, ultrazvukové rezanie, rezanie diamantovou pílou), iónové technológie (iónové stenčovanie, plazmatické čistenie) a chemickú prípravu (elektrochemické stenčovanie, leptanie).
