Elektrónová mikroskopia patrí v súčasnosti medzi základné piliere materiálového výskumu. Je to metóda vhodná na charakterizáciu morfológie, zloženia a vnútornej štruktúry materiálov. Hlavným poslaním Centra STU pre Nanodiagnostiku je analýza materiálov a nanoštruktúr pre elektronické aplikácie, senzoriku, fotoniku, elektroniku, medicínu, geológiu, materiálové inžinierstvo a životné prostredie. Analýza materiálov a rozhraní je s použitím súčasných špičkových elektrónových mikroskopov možná až na úrovni atómov. Porozumenie štruktúre a vlastnostiam materiálov je základným predpokladom k ich reálnym aplikáciám.
Interference‐enhanced Raman scattering in SiO2/Si structures related to reflectance
CND 2019-08-15T12:26:23+00:00 august 15th, 2019|0 Komentárov
Ľubomír Vančo, Mário Kotlár, Magdaléna Kadlečíková, Viliam Vretenár, Marian Vojs, Jaroslav Kováč Journal of Raman [...]
Covalent Diamond–Graphite Bonding: Mechanism of Catalytic Transformation
CND 2019-08-15T12:26:01+00:00 august 15th, 2019|0 Komentárov
Semir Tulić, Thomas Waitz, Mária Čaplovičová, Gerlinde Habler, Marián Varga, Mário Kotlár, Viliam Vretenár, Oleksandr [...]
Effect of temperature and carrier gas on the properties of thick InxAl1-xN layer
CND 2018-11-09T14:14:10+00:00 október 29th, 2018|0 Komentárov
Prerna Chauhan, Stanislav Hasenöhrl, Edmund Dobročka, Ľubomír Vančo, Roman Stoklas, Jaroslav Kováč, Peter Šiffalovič, Ján [...]
There are no upcoming udalosti at this time.