Aktuality – Centrum pre Nanodiagnostiku Materiálov

Kategória: Aktuality

Titulná strana v ACS Applied Electronic Materials

Posted on 13. júna 202513. júna 2025 by Mario Kotlár

Publikácia Graphene-ZnO Thin-Film Heterostructure-Based Efficient UV Photosensors, na ktorej sme sa autorsky podieľali, bola nedávno umiestnená na titulnú stranu časopisu ACS Applied Electronic Materials . Dr. Ravi K. Biroju, hlavný autor publikácie, vysvetľuje, že daná práca demonštruje prípravu van der Waalsovej heteroštruktúry grafén/ZnO v podobe tenkej vrstvy metódou CVD. Ak skombinujeme priamy polovodičový materiál s veľkou šírkou zakázaného pásma ako ZnO a vodivú vrstvu grafénu, dostaneme platformu s možnosťami jej aplikácie v oblasti fotosenzorov, alebo plynových senzorov. V prípade osvetlenia danej štruktúry dôjde k efektívnej separácii svetlom generovaných elektrón-dierových párov lokálnym elektrickým poľom, čo efektívne potlačí ich rekombináciu a zvýši životnosť nosičov náboja. Výsledkom je k zvýšenie hustoty nosičov náboja. Ďalej to vedie k zníženiu Schottkyho bariéry medzi tenkou vrstvou ZnO a grafénom, čo zlepšuje transport nosičov náboja. Výsledkom je vysoký pomer prúdov osvetlenej a neosvetlenej štruktúry I_light/I_dark, oveľa väčší než pre samotné tenké vrstvy, alebo nanoštruktúry ZnO.

Inštalácia FIB-SEM mikroskopu

Posted on 20. júna 202220. júna 2022 by CND

Začiatkom Júna sa v priestoroch Centra pre Nanodiagnostiku Materiálov, ktoré patrí pod MTF Trnava, začala inštalácia nového FIB-SEM mikroskopu. Zariadenie bolo privezené z výrobného závodu firmy Thermo Fisher Scientific (bývalá firma FEI) v Brne do Bratislavy, kde bolo inštalované v novo zrekonštruovaných priestoroch Centra. Po náročnom transporte zariadenia do suterénu, bol mikroskop úspešne zostavený a spustený. Po následnej sérii nastavení, kalibrácií a testov bol mikroskop odskúšaný a uvedený do prevádzky. Keďže mikroskop spĺňa požadované parametre, môžeme konštatovať, že mikroskop je pripravený splniť všetky náročné požiadavky, ktoré sú naň kladené.

Prestavba suterénu Nanocentra

Posted on 10. septembra 202120. júna 2022 by Mario Kotlár

V rámci projektu Accord bude zakúpený nový FIB-SEM mikroskop, ktorý bude inštalovaný v priestoroch Centra pre Nanodiagnostiku materiálov.

S nákupom je úzko spojená rozsiahla rekonštrukcia suterénu Centra pre Nanodiagnostiku materiálov, ktorá začala v Marci 2022.

Úprava priestorov sa začala odstránením priečok

Práce začali odstránením starých podláh, priečok a prácami na novej podlahe. Pre samotný mikroskop bude vytvorený samostatný betónový blok, ktorí bude oddelený od zvyšku miestnosti. Po zhotovení nových podláh, budú mať nové laboratóriá vyššiu svetlú výšku.

Miesto pre samostatný betónový blok pod FIB-SEM mikroskop.

Po ukončení rekonštrukcie vznikli z pôvodne zanedbaných priestorov nové atraktívne laboratóriá. Po inštalácii nového prístrojového vybavenia zlepšia tieto laboratóriá možnosti výskumných aktivít Slovenskej Technickej Univerzity. Týmto bola univerzita obohatená o nové reprezentatívne priestory.